Industrielles Inspektionsmikroskop
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BS-4020B Trinokulares industrielles Wafer-Inspektionsmikroskop
Das industrielle Inspektionsmikroskop BS-4020B wurde speziell für die Inspektion von Wafern unterschiedlicher Größe und großen Leiterplatten entwickelt.Dieses Mikroskop bietet ein zuverlässiges, komfortables und präzises Beobachtungserlebnis.Mit perfekt ausgeführter Struktur, hochauflösendem optischem System und ergonomischem Betriebssystem realisiert BS-4020B professionelle Analysen und erfüllt verschiedene Anforderungen der Forschung und Inspektion von Wafern, FPD, Schaltkreispaketen, Leiterplatten, Materialwissenschaften, Präzisionsguss, Metallkeramik, Präzisionsformen, Halbleiter und Elektronik usw.
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BS-4000B Trinokulares industrielles Inspektionsmikroskop
Die Mikroskope der BS-4000-Serie sind speziell für die präzise industrielle Inspektion konzipiert.Sie verfügen über ein unendliches optisches System und eine leistungsstarke Objektivlinse mit großem Arbeitsabstand.Sie bieten eine hervorragende optische Leistung und stehen der IT-Industrie, großformatigen integrierten Schaltkreisen, der Chip-Beobachtung und dem Testen zur Verfügung.
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BS-4000A Trinokulares industrielles Inspektionsmikroskop
Die Mikroskope der BS-4000-Serie sind speziell für die präzise industrielle Inspektion konzipiert.Sie verfügen über ein unendliches optisches System und eine leistungsstarke Objektivlinse mit großem Arbeitsabstand.Sie bieten eine hervorragende optische Leistung und stehen der IT-Industrie, großformatigen integrierten Schaltkreisen, der Chip-Beobachtung und dem Testen zur Verfügung.
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BS-4020A Trinokulares industrielles Wafer-Inspektionsmikroskop
Das industrielle Inspektionsmikroskop BS-4020A wurde speziell für die Inspektion von Wafern unterschiedlicher Größe und großen Leiterplatten entwickelt.Dieses Mikroskop bietet ein zuverlässiges, komfortables und präzises Beobachtungserlebnis.Mit perfekt ausgeführter Struktur, hochauflösendem optischem System und ergonomischem Betriebssystem realisiert BS-4020A professionelle Analysen und erfüllt verschiedene Anforderungen der Forschung und Inspektion von Wafern, FPD, Schaltkreispaketen, Leiterplatten, Materialwissenschaften, Präzisionsguss, Metallkeramik, Präzisionsformen, Halbleiter und Elektronik usw.
