Aufrechtes metallurgisches Forschungsmikroskop BS-6025TRF Research
BS-6025TRF
Einführung
Die aufrechten metallurgischen Mikroskope der Serie BS-6025 wurden für die Forschung entwickelt und zeichnen sich durch ein bahnbrechendes Design in Aussehen und Funktionen, ein breites Sichtfeld, hochauflösende halbapochromatische metallurgische Objektive mit Hell-/Dunkelfeld und ein ergonomisches Betriebssystem aus Bieten Sie eine perfekte Forschungslösung und entwickeln Sie ein neues Muster für den Industriebereich.Die Objektive können motorisiert sein und über die Tasten an der vorderen Basis des Mikroskops gesteuert werden. Die Beleuchtungsintensität ändert sich nach dem Wechsel des Objektivs.
Merkmale
1.Ausgezeichnetes unendliches optisches System.
Mit dem hervorragenden unendlichen optischen System liefert das aufrechte metallurgische Mikroskop der BS-6025-Serie hochauflösende, hochauflösende und chromatische Aberration korrigierte Bilder, die die Details Ihrer Probe sehr gut darstellen können.
2.Modulares Design.
Die Mikroskope der BS-6025-Serie wurden modular konzipiert, um verschiedenen industriellen und materialwissenschaftlichen Anwendungen gerecht zu werden.Es gibt Benutzern die Flexibilität, ein System für spezifische Anforderungen zu erstellen.
3. Bequeme Steuerung.
(1) Motorisierter Objektivschalter und ECO-Funktion.
Die Ziele konnten durch einfaches Drücken der Drehknöpfe gewechselt werden.Benutzer können auch zwei der am häufigsten verwendeten Ziele selbst definieren und durch Drücken der grünen Taste zwischen diesen beiden Zielen wechseln.Die Lichtintensität wird automatisch angepasst, nachdem Sie das Objektiv geändert haben.
Das Mikroskoplicht wird 15 Minuten nach dem Verlassen des Bedieners automatisch ausgeschaltet.Das spart nicht nur Energie, sondern verlängert auch die Lebensdauer der Lampe.
(2) Tastenkombinationen.
Mit dieser Schnelltaste kann der Benutzer schnell zwischen zwei voreingestellten Zielen wechseln.Diese Verknüpfungstaste kann vom Benutzer auch mit anderen Funktionen verknüpft werden.
4.Bequem und einfach zu bedienen.
(1) NIS45 Infinite Plan Semi-APO- und APO-Ziele.
Mit hochtransparentem Glas und fortschrittlicher Beschichtungstechnologie kann die NIS45-Objektivlinse hochauflösende Bilder liefern und die natürliche Farbe der Proben präzise wiedergeben.Für spezielle Anwendungen stehen verschiedene Objektive zur Verfügung, darunter polarisierende Objektive und große Arbeitsabstände.
(2) Nomarski DIC.
Mit dem neu entwickelten DIC-Modul wird der Höhenunterschied einer Probe, der im Hellfeld nicht erfasst werden kann, zu einem Relief- oder 3D-Bild.Es ist ideal für die Beobachtung von leitenden LCD-Partikeln und Oberflächenkratzern von Festplatten usw.
(3) Fokussierungssystem.
Um das System an die Bediengewohnheiten der Bediener anzupassen, können Fokussierungs- und Bühnenknopf nach links oder rechts verstellt werden.Dieses Design macht die Bedienung komfortabler.
(4) Ergo neigbarer Trinokularkopf.
Okulartubus verstellbar von 0° bis 35°，Der Trinokulartubus kann an eine DSLR-Kamera und eine Digitalkamera angeschlossen werden und verfügt über einen 3-Positionen-Strahlteiler (0:100).,100:0, 80:20)Die Verteilerstange kann je nach Benutzeranforderung auf beiden Seiten montiert werden.
5. Verschiedene Beobachtungsmethoden.
Dunkelfeld (Wafer)
Das Dunkelfeld ermöglicht die Beobachtung von gestreutem oder gebeugtem Licht der Probe.Alles, was nicht flach ist, reflektiert dieses Licht, während alles, was flach ist, dunkel erscheint, sodass Unvollkommenheiten deutlich hervorstechen.Der Benutzer kann das Vorhandensein selbst eines winzigen Kratzers oder Fehlers bis zur 8-nm-Ebene erkennen – kleiner als die Auflösungsgrenze eines optischen Mikroskops.Das Dunkelfeld ist ideal zum Erkennen kleinster Kratzer oder Fehler auf einer Probe und zur Untersuchung von Proben mit Spiegeloberflächen, einschließlich Wafern.
Differenzieller Interferenzkontrast (leitende Teilchen)
DIC ist eine mikroskopische Beobachtungstechnik, bei der der im Hellfeld nicht erkennbare Höhenunterschied einer Probe zu einem reliefartigen oder dreidimensionalen Bild mit verbessertem Kontrast wird.Diese Technik nutzt polarisiertes Licht und kann mit drei speziell entwickelten Prismen individuell angepasst werden.Es ist ideal für die Untersuchung von Proben mit sehr geringen Höhenunterschieden, einschließlich metallurgischer Strukturen, Mineralien, Magnetköpfen, Festplattenmedien und polierten Waferoberflächen.
Durchlichtbeobachtung (LCD)
Für transparente Proben wie LCDs, Kunststoffe und Glasmaterialien ist die Durchlichtbeobachtung mithilfe verschiedener Kondensoren möglich.Die Untersuchung von Proben im Durchlicht-Hellfeld und im polarisierten Licht kann in einem praktischen System durchgeführt werden.
Polarisiertes Licht (Asbest)
Diese mikroskopische Beobachtungstechnik nutzt polarisiertes Licht, das von einer Reihe von Filtern (Analysator und Polarisator) erzeugt wird.Die Eigenschaften der Probe wirken sich direkt auf die Intensität des durch das System reflektierten Lichts aus.Es eignet sich für metallurgische Strukturen (z. B. Wachstumsmuster von Graphit auf Kugelgraphitguss), Mineralien, LCDs und Halbleitermaterialien.
Anwendung
Mikroskope der Serie BS-6025 werden häufig in Instituten und Labors zur Beobachtung und Identifizierung der Struktur verschiedener Metalle und Legierungen eingesetzt. Sie können auch in der Elektronik-, Chemie- und Halbleiterindustrie wie Wafern, Keramik, integrierten Schaltkreisen, elektronischen Chips und gedruckten Produkten eingesetzt werden Leiterplatten, LCD-Panels, Filme, Pulver, Toner, Drähte, Fasern, plattierte Beschichtungen, andere nichtmetallische Materialien und so weiter.
Spezifikation
| Artikel | Spezifikation | BS-6025RF | BS-6025TRF | |
| Optisches System | NIS45 Unendlich farbkorrigiertes optisches System (TubeLänge: 180mm) | ● | ● | |
| Betrachtungskopf | Ergo neigbarer Trinokularkopf, einstellbar in der Neigung von 0–35°, Pupillenabstand 47–78 mm;Teilungsverhältnis Okular:Trinokular=100:0 oder 20:80 oder 0:100 | ● | ● | |
| Seidentopf-Trinokularkopf, 30° geneigt, Pupillenabstand: 47 mm–78 mm;Teilungsverhältnis Okular:Trinokular=100:0 oder 20:80 oder 0:100 | ○ | ○ | ||
| Seidentopf-Binokularkopf, 30° geneigt, Augenabstand: 47 mm–78 mm | ○ | ○ | ||
| Okular | Superweitwinkelokular SW10X/25mm, Dioptrien einstellbar | ● | ● | |
| Superweitwinkelokular SW10X/22mm, Dioptrien einstellbar | ○ | ○ | ||
| Extraweites Feldplanokular EW12,5X/16mm, Dioptrien einstellbar | ○ | ○ | ||
| Weitwinkelokular WF15X/16mm, Dioptrien einstellbar | ○ | ○ | ||
| Weitwinkelokular WF20X/12mm, Dioptrien einstellbar | ○ | ○ | ||
| Zielsetzung | NIS45 Infinite LWD Plan Semi-APO Objective (BF & DF) | 5X/NA=0,15, WD=20mm | ● | ● |
| 10X/NA=0,3, WD=11mm | ● | ● | ||
| 20X/NA=0,45, WD=3,0mm | ● | ● | ||
| NIS45 Infinite LWD Plan APO-Ziel (BF & DF) | 50X/NA=0,8, WD=1,0mm | ● | ● | |
| 100X/NA=0,9, WD=1,0mm | ● | ● | ||
| Nasenstück | Rückwärtsmotorisierter sechsfacher Objektivrevolver (mit DIC-Steckplatz) | ● | ● | |
| Kondensator | LWD-Kondensator NA0,65 | ○ | ● | |
| Durchlichtbeleuchtung | 12V/100W Halogenlampe, Kohler-Beleuchtung, mit ND6/ND25-Filter | ○ | ● | |
| 3W S-LED-Lampe, mittig voreingestellt, Intensität einstellbar | ○ | ○ | ||
| Reflektierte Beleuchtung | Auflicht-Halogenlampe 12 W/100 W, Köhler-Beleuchtung, mit 6-Positionen-Revolver | ● | ● | |
| 100W Halogenlampenhaus | ● | ● | ||
| BF1-Hellfeldmodul | ● | ● | ||
| BF2-Hellfeldmodul | ● | ● | ||
| DF Dunkelfeldmodul | ● | ● | ||
| BIntegrierter ND6-, ND25-Filter und Farbkorrekturfilter | ● | ● | ||
| ECO-Funktion | ECO-Funktion mit ECO-Taste | ● | ● | |
| Mmotorisierte Steuerung | Objektivrevolver-Bedienfeld mit Tasten.Zwei der am häufigsten verwendeten Ziele können durch Drücken der grünen Taste eingestellt und umgeschaltet werden.Die Lichtintensität wird nach dem Objektivwechsel automatisch angepasst | ● | ● | |
| Fokussieren | Koaxiale Grob- und Feinfokussierung in niedriger Position, Feinteilung 1 μm, Bewegungsbereich 35 mm | ● | ● | |
| Max.SExemplarhöhe | 76mm | ● | ||
| 56mm | ● | |||
| Bühne | Doppelschichtiger mechanischer Tisch, Größe 210 mm x 170 mm;Bewegungsbereich 105 mm x 105 mm (rechter oder linker Griff);Präzision: 1 mm;Mit hart oxidierter Oberfläche zur Vermeidung von Abrieb kann die Y-Richtung gesperrt werden | ● | ● | |
| Waferhalter: Kann zur Aufnahme von 2-Zoll-, 3-Zoll- und 4-Zoll-Wafern verwendet werden | ○ | ○ | ||
| DIC-Kit | DIC-Kit für Auflichtbeleuchtung (caKann für 10X-, 20X-, 50X-, 100X-Objektive verwendet werden) | ○ | ○ | |
| Polarisationsset | PPolarisator für Auflichtbeleuchtung | ○ | ○ | |
| Analysator für Auflichtbeleuchtung,0-360°drehbar | ○ | ○ | ||
| PPolarisator für Durchlichtbeleuchtung | ○ | |||
| Analysator für Durchlichtbeleuchtung | ○ | |||
| Sonstiges Zubehör | 0,5-facher C-Mount-Adapter | ○ | ○ | |
| 1X C-Mount-Adapter | ○ | ○ | ||
| Staubschutzhaube | ● | ● | ||
| Netzkabel | ● | ● | ||
| Kalibrierschieber 0,01 mm | ○ | ○ | ||
| Probenpresser | ○ | ○ | ||
Hinweis: ● Standard-Outfit, ○ optional
Zertifikat
Logistik
