BS-6026TRF Motorisiertes aufrechtes metallurgisches Forschungsmikroskop
BS-6026TRF (Vorderansicht)
BS-6026TRF (linke Seitenansicht)
Einführung
Die motorisierten, automatisch fokussierenden aufrechten metallurgischen Mikroskope der Serie BS-6026 wurden entwickelt, um ein sicheres, komfortables und präzises Beobachtungserlebnis zu bieten.Der motorisierte XY-Tisch, die automatische Fokussierung, der Touchscreen-Controller, die leistungsstarke Software und der Joystick erleichtern Ihnen die Arbeit.Die Software verfügt über Funktionen zur Bewegungssteuerung, Tiefenschärfefusion, Objektivwechsel, Helligkeitssteuerung, Autofokus, Bereichsscan und Bildzusammenfügung.
Mit weitem Sichtfeld, hoher Auflösung und semi-apochromatischen und apochromatischen metallurgischen Hell-/Dunkelfeld-Objektiven und einem ergonomischen Betriebssystem sind sie geboren, um eine perfekte Forschungslösung bereitzustellen und ein neues Muster der industriellen Forschung zu entwickeln.
Ein LCD-Touchscreen vor dem Mikroskop, auf dem Vergrößerungs- und Beleuchtungsinformationen angezeigt werden können.
Merkmale
1. Ausgezeichnetes unendliches optisches System.
Mit dem hervorragenden unendlichen optischen System liefert das aufrechte metallurgische Mikroskop der BS-6026-Serie hochauflösende, hochauflösende und chromatische Aberration korrigierte Bilder, die die Details Ihrer Probe sehr gut darstellen können.
2. Modularer Aufbau.
Die Mikroskope der BS-6026-Serie wurden modular konzipiert, um verschiedenen industriellen und materialwissenschaftlichen Anwendungen gerecht zu werden.Es gibt Benutzern die Flexibilität, ein System für spezifische Anforderungen zu erstellen.
3. Nehmen Sie den Leitungsmotor und den Schraubenantriebsmodus an.
Elektrischer Fokussiermechanismus mit niedriger Handbewegung, unabhängiger Betrieb der linken und rechten Räder, Einstellung in drei Geschwindigkeiten, Fokussierbereich 30 mm, Wiederholpositionierungsgenauigkeit: 0,1 μm.
4. Der neigbare Trinokularkopf ist optional.
(1) Der Augentubus kann von 0°-35° eingestellt werden.
(2) An den Trinokulartubus können Digitalkameras oder DSLR-Kameras angeschlossen werden.
(3) Der Strahlteiler hat 3 Positionen (100:0, 20:80, 0:100).
(4) Die Verteilerstange kann je nach Benutzeranforderungen auf beiden Seiten montiert werden.
5. Kann über den Steuergriff gesteuert werden(Joystick), LCD-Touchscreen und Software.
Steuergriff
Dieses Mikroskop kann über die Software und den Steuergriff LED-Helligkeit, Objektivumschaltung, Autofokus und elektrische Einstellung der XYZ-Achse realisieren.Die Software kann Tiefenschärfefusion, Objektivwechsel, Helligkeitssteuerung, Autofokus, Bereichsscan, Bildzusammenfügung und andere Funktionen realisieren.
6.Bequem und einfach zu bedienen.
(1) NIS45 Infinite Plan Semi-APO und APO Hellfeld- und Dunkelfeld-Objektive.
Mit hochtransparentem Glas und fortschrittlicher Beschichtungstechnologie kann die NIS45-Objektivlinse hochauflösende Bilder liefern und die natürliche Farbe der Proben präzise wiedergeben.Für spezielle Anwendungen stehen verschiedene Objektive zur Verfügung, darunter polarisierende Objektive und große Arbeitsabstände.
(2) Nomarski DIC.
Mit dem neu entwickelten DIC-Modul wird der Höhenunterschied einer Probe, der im Hellfeld nicht erfasst werden kann, zu einem Relief- oder 3D-Bild.Es ist ideal für die Beobachtung von leitenden LCD-Partikeln und Oberflächenkratzern von Festplatten usw.
7.Verschiedene Beobachtungsmethoden.
Dunkelfeld (Wafer)
Das Dunkelfeld ermöglicht die Beobachtung von gestreutem oder gebeugtem Licht der Probe.Alles, was nicht flach ist, reflektiert dieses Licht, während alles, was flach ist, dunkel erscheint, sodass Unvollkommenheiten deutlich hervorstechen.Der Benutzer kann das Vorhandensein selbst eines winzigen Kratzers oder Fehlers bis zur 8-nm-Ebene erkennen – kleiner als die Auflösungsgrenze eines optischen Mikroskops.Das Dunkelfeld ist ideal zum Erkennen kleinster Kratzer oder Fehler auf einer Probe und zur Untersuchung von Proben mit Spiegeloberflächen, einschließlich Wafern.
Differenzieller Interferenzkontrast (leitende Teilchen)
DIC ist eine mikroskopische Beobachtungstechnik, bei der der im Hellfeld nicht erkennbare Höhenunterschied einer Probe zu einem reliefartigen oder dreidimensionalen Bild mit verbessertem Kontrast wird.Diese Technik nutzt polarisiertes Licht und kann mit drei speziell entwickelten Prismen individuell angepasst werden.Es ist ideal für die Untersuchung von Proben mit sehr geringen Höhenunterschieden, einschließlich metallurgischer Strukturen, Mineralien, Magnetköpfen, Festplattenmedien und polierten Waferoberflächen.
Durchlichtbeobachtung (LCD)
Für transparente Proben wie LCDs, Kunststoffe und Glasmaterialien ist die Durchlichtbeobachtung mithilfe verschiedener Kondensoren möglich.Die Untersuchung von Proben im Durchlicht-Hellfeld und im polarisierten Licht kann in einem praktischen System durchgeführt werden.
Polarisiertes Licht (Asbest)
Diese mikroskopische Beobachtungstechnik nutzt polarisiertes Licht, das von einer Reihe von Filtern (Analysator und Polarisator) erzeugt wird.Die Eigenschaften der Probe wirken sich direkt auf die Intensität des durch das System reflektierten Lichts aus.Es eignet sich für metallurgische Strukturen (z. B. Wachstumsmuster von Graphit auf Kugelgraphitguss), Mineralien, LCDs und Halbleitermaterialien.
Anwendung
Motorisierte aufrechte metallurgische Mikroskope mit automatischer Fokussierung der Serie BS-6026 werden häufig in Instituten und Labors zur Beobachtung und Identifizierung der Struktur verschiedener Metalle und Legierungen eingesetzt. Sie können auch in der Elektronik-, Chemie- und Halbleiterindustrie wie Wafer, Keramik und integrierten Schaltkreisen eingesetzt werden , elektronische Chips, Leiterplatten, LCD-Panels, Filme, Pulver, Toner, Drähte, Fasern, plattierte Beschichtungen, andere nichtmetallische Materialien und so weiter.
Spezifikation
| Artikel | Spezifikation | BS-6026RF | BS-6026TRF | |
| Optisches System | NIS45 Unendlich farbkorrigiertes optisches System (TubeLänge: 200mm) | ● | ● | |
| Betrachtungskopf | Ergo neigbarer Trinokularkopf, einstellbar in der Neigung von 0–35°, Pupillenabstand 47–78 mm;Teilungsverhältnis Okular:Trinokular=100:0 oder 20:80 oder 0:100 | ○ | ○ | |
| Seidentopf-Trinokularkopf, 30° geneigt, Pupillenabstand: 47 mm–78 mm;Teilungsverhältnis Okular:Trinokular=100:0 oder 20:80 oder 0:100 | ● | ● | ||
| Seidentopf-Binokularkopf, 30° geneigt, Augenabstand: 47 mm–78 mm | ○ | ○ | ||
| Okular | Superweitwinkelokular SW10X/25mm, Dioptrien einstellbar | ● | ● | |
| Superweitwinkelokular SW10X/22mm, Dioptrien einstellbar | ○ | ○ | ||
| Extraweites Feldplanokular EW12,5X/16mm, Dioptrien einstellbar | ○ | ○ | ||
| Weitwinkelokular WF15X/16mm, Dioptrien einstellbar | ○ | ○ | ||
| Weitwinkelokular WF20X/12mm, Dioptrien einstellbar | ○ | ○ | ||
| Zielsetzung | NIS45 Infinite LWD Plan Semi-APO Objective (BF & DF) | 5X/NA=0,15, WD=20mm | ● | ● |
| 10X/NA=0,3, WD=11mm | ● | ● | ||
| 20X/NA=0,45, WD=3,0mm | ● | ● | ||
| NIS45 Infinite LWD Plan APO-Ziel (BF & DF) | 50X/NA=0,8, WD=1,0mm | ● | ● | |
| 100X/NA=0,9, WD=1,0mm | ● | ● | ||
| NIS60 Infinite LWD Plan Semi-APO Objective (BF) | 5X/NA=0,15, WD=20mm | ○ | ○ | |
| 10X/NA=0,3, WD=11mm | ○ | ○ | ||
| 20X/NA=0,45, WD=3,0mm | ○ | ○ | ||
| NIS60 Infinite LWD Plan APO Objective (BF) | 50X/NA=0,8, WD=1,0mm | ○ | ○ | |
| 100X/NA=0,9, WD=1,0mm | ○ | ○ | ||
| Nasenstück | Rückwärtsmotorisierter sechsfacher Objektivrevolver (mit DIC-Steckplatz) | ● | ● | |
| Kondensator | LWD-Kondensator NA0,65 | ○ | ● | |
| Durchlichtbeleuchtung | 12V/100W Halogenlampe, Kohler-Beleuchtung, mit ND6/ND25-Filter | ○ | ● | |
| 3W S-LED-Lampe, mittig voreingestellt, Intensität einstellbar | ○ | ○ | ||
| Reflektierte Beleuchtung | Auflicht-Halogenlampe 12 W/100 W, Köhler-Beleuchtung, mit 6-Positionen-Revolver | ● | ● | |
| 100W Halogenlampenhaus | ● | ● | ||
| BF1-Hellfeldmodul | ● | ● | ||
| BF2-Hellfeldmodul | ● | ● | ||
| DF Dunkelfeldmodul | ● | ● | ||
| BIntegrierter ND6-, ND25-Filter und Farbkorrekturfilter | ● | ● | ||
| Mmotorisierte Steuerung | Objektivrevolver-Bedienfeld mit Tasten.Zwei der am häufigsten verwendeten Ziele können durch Drücken der grünen Taste eingestellt und umgeschaltet werden.Die Lichtintensität wird nach dem Objektivwechsel automatisch angepasst | ● | ● | |
| Fokussieren | Low-Hand-motorisierter automatischer Fokussiermechanismus, unabhängige Bedienung der linken und rechten Räder, Geschwindigkeitseinstellung mit drei Geschwindigkeiten, Fokussierbereich 30 mm, Wiederholpositionierungsgenauigkeit: 0,1 μm, motorisierter Flucht- und Wiederherstellungsmechanismus | ● | ● | |
| Max.SExemplarhöhe | 76mm | ● | ||
| 56mm | ● | |||
| Bühne | Hochpräziser motorisierter XY-Doppelschichttisch, Größe 275 x 239 x 44,5 mm;Verfahrweg: X-Achse, 125 mm;Y-Achse, 75 mm.Wiederholgenauigkeit ±1,5 μm, maximale Geschwindigkeit 20 mm/s | ● | ● | |
| Waferhalter: Kann zur Aufnahme von 2-Zoll-, 3-Zoll- und 4-Zoll-Wafern verwendet werden | ○ | ○ | ||
| DIC-Kit | DIC-Kit für Auflichtbeleuchtung (caKann für 10X-, 20X-, 50X-, 100X-Objektive verwendet werden) | ○ | ○ | |
| Polarisationsset | PPolarisator für Auflichtbeleuchtung | ○ | ○ | |
| Analysator für Auflichtbeleuchtung,0-360°drehbar | ○ | ○ | ||
| PPolarisator für Durchlichtbeleuchtung | ○ | |||
| Analysator für Durchlichtbeleuchtung | ○ | |||
| Sonstiges Zubehör | 0,5-facher C-Mount-Adapter | ○ | ○ | |
| 1X C-Mount-Adapter | ○ | ○ | ||
| Staubschutzhaube | ● | ● | ||
| Netzkabel | ● | ● | ||
| Kalibrierschlitten 0,01 mm (Tischmikrometer) | ○ | ○ | ||
| Probenpresser | ○ | ○ | ||
Hinweis: ● Standard-Outfit, ○ optional
Zertifikat
Logistik
BS-6026 Motorisiertes aufrechtes metallurgisches Forschungsmikroskop
